GTEM小室是在橫電磁波室(TEM室)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來一種新型電磁兼容測試設備。后者本身具有結(jié)構(gòu)封閉,不向外輻射電磁能量,不影響操作人員健康和不干擾其它儀器的工作;由于結(jié)構(gòu)封閉的特點,亦不受外界環(huán)境及干擾的影響;工作頻率較寬,可從DC~1000MHz,甚至更高;場強范圍大,從強場(如300V/m)至弱場(如10μV/m)均可測試,且場值控制容易。
GTEM小室可以代替電磁兼容暗室進行輻射抗擾度測試,具有工作頻率寬、內(nèi)部場強均勻、屏蔽效能好,試驗中能量利用率高等優(yōu)點。GTEM小室是錐形的同軸線結(jié)構(gòu),在芯板周圍激勵出橫電磁波,波阻抗377歐姆。GTEM小室可以在給定的工作空間區(qū)域內(nèi)提供非常好的場均勻性和場的再現(xiàn)性,也非常適用于場的校準。GTEM小室在做干擾測試和抗干擾度測試時,較開闊場和暗室測試都更方便、靈活、節(jié)省空間和成本。
GTEM小室構(gòu)成的輻射敏感度(抗擾度)測試系統(tǒng)為小型電子產(chǎn)品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據(jù)。測試系統(tǒng)構(gòu)成:主要由標準信號源、功率放大器、場強監(jiān)視器、計算機及操控軟件和GTEM 室體組成。
GTEM的組成:
GTEM可看成是:為容下被測對象,將50Ω同軸電纜進行空間上的擴展。同軸電纜的芯線被擴展為GTEM小室的內(nèi)導體芯板,同軸電纜的外皮被做成GTEM小室的外殼。GTEM小室內(nèi)部的特性阻抗仍然被設計成50Ω,為了減小輸入的電磁波在內(nèi)部腔體的末端產(chǎn)生反射,把芯板的末端接到了寬帶的匹配負載板上,在腔體的末端還安放了吸波材料以便將發(fā)射到末端的電磁波吸收。
GTEM小室是根據(jù)同軸及非對稱矩形傳輸線原理設計而成的設備。為避免內(nèi)部電磁波的反射和諧振,GTEM小室在外形上被設計成尖錐型,其輸入端采用N型同軸接頭,隨后中心導體展平成為一塊扇形板,稱為芯板。在小室的芯板和底板之間形成矩形均勻場區(qū)。GTEM小室的端面還貼有吸波材料,用它對頻率的電磁波做進一步吸收,因此在小室的芯板和底板之間產(chǎn)生了一個均勻場強的測試區(qū)域。試驗時,試品被置于測試區(qū)中,為了做到不因試品置入而過于影響場的均勻性,試品以不超過芯板和底板之間距離的1/3高度為宜。